波前分析儀/傳感器
当前產品型號：SID4
所屬品牌：Phasics
当前產品簡介：法國Phasics提供各種系列的波前分析儀 / 波前傳感器 如：紫外波，短波紅外，雙波段等，具有高性價比和高分辨率等特點。
Phasics基于創新的高分辨率波前傳感技術，提供全方位的波前測量系統和定量相位成像解決方案。Phasics公司獨特的波前傳感專利技術被稱爲四波横向剪切幹涉術（QWLSI）。開發這項技術是爲了克服Shack-Hartmann的局限性：它提供超高分辨率（高達852×720個測量點）、高靈敏度（亞納米）和大動態範圍（數百微米）。
此外，Phasics的波前傳感器結構緊湊、消色差且易于使用，這得益于它們即使在高度發散的光束上也能在沒有中繼光學器件的情況下進行直接測量。Phasics的核心能力是通過四波横向剪切幹涉測量進行波前測量和分析。對于每個應用程序，專家軟件包提供完整且相關的分析，以充分利用高分辨率波前測量。Phasics以客戶爲中心，致力于滿足所有需求：其強大的研發團隊不斷開發創新功能，探索新的應用程序，並根據客戶的要求定制標准配置。
Phasics波前傳感器/波前分析儀參數指標
型號 | 波長範圍 | 靶面尺寸 | 空間分辨率 | 取樣分辨率 | 相位分辨率 | 絕對精度 |
SID4 UV HR | 190~400nm | 13.84 x 10.88 mm² | 38.88 µm | 355 x 280 | 1 nm RMS | 10 nm RMS |
SID4 | 400~1100nm | 5.02 x 3.75 mm² | 27.6 µm | 182 x 136 | < 2 nm RMS | 10 nm RMS |
SID4 HR | 400~1100nm | 9.98 x 8.64 mm² | 24 µm | 416 x 360 | < 2 nm RMS | 20 nm RMS |
SID4 SWIR HR | 900~1700nm | 9.60 x 7.68 mm² | 60 µm | 160 x 128 | 2 nm RMS | 15 nm RMS |
SID4 SWIR | 900~1700nm | 9.60 x 7.68 mm² | 120 µm | 80 x 64 | < 2 nm RMS | 15 nm RMS |
SID4 UHR | 400~1100nm | 15.16 x 15.16 mm² | 29.6 µm | 512 x 512 | <2 nm RMS | 15 nm RMS |
SID4 eSWIR | 900~2350nm | 9.60 x 7.68 mm² | 120 μm | 80 x 64 | < 6 nm RMS | <40nm RMS |
SID4 DWIR | 300~500nm | 10.08 x 8.16 mm² | 68 µm | 160 x 120 | 25 nm RMS | 75 nm RMS |
SID4 HR V | 400~1100nm | 4.73 x 3.55 mm² | 29.6 µm | 160 x 120 | < 2 nm RMS | 10 nm RMS |
SID4 UV | 250~400nm | 7.4 x 7.4 mm² | 29.6 µm | 250 x 250 | 2 nm RMS | 10 nm RMS |
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